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Documents dont l'auteur est "Chatel, Sebastien"

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Gelin, S., Poinot, D., Chatel, S., Calba, P.-J., & Lemaitre, A. (2019). Microstructural origin of compressive in situ stresses in electron-gun-evaporated silica thin films. Physical Review Materials, 3(5), 055608 (19 pages). Lien externe

Liste produite: Fri Dec 20 04:49:25 2024 EST.