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Documents dont l'auteur est "Chan, B."

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Khomh, F., Chan, B., Zou, Y., Sinha, A., & Dietz, D. (septembre 2011). Predicting post-release defects using pre-release field testing results [Communication écrite]. IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2011), Williamsburg, VA, USA. Lien externe

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