Foutse Khomh
, Brian Chan, Ying Zou, Anand Sinha, Dave Dietz
Communication écrite (2011)
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ISBN:
9781457706639
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2011)
Lieu de la conférence:
Williamsburg, VA, USA
Date(s) de la conférence:
2011-09-25 - 2011-10-01
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:16671
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:12
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:18
Citer en APA 7:
Khomh, F., Chan, B., Zou, Y., Sinha, A., & Dietz, D. (septembre 2011). Predicting post-release defects using pre-release field testing results [Communication écrite]. IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2011), Williamsburg, VA, USA. https://doi.org/10.1109/icsm.2011.6080792
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