Foutse Khomh
, B. Chan, Ying Zou, A. Sinha et D. Dietz
Communication écrite (2011)
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/16671/ |
|---|---|
| Nom de la conférence: | IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2011) |
| Lieu de la conférence: | Williamsburg, VA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 2011-09-25 - 2011-10-01 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/icsm.2011.6080792 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icsm.2011.6080792 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:12 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:57 |
| Citer en APA 7: | Khomh, F., Chan, B., Zou, Y., Sinha, A., & Dietz, D. (septembre 2011). Predicting post-release defects using pre-release field testing results [Communication écrite]. IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2011), Williamsburg, VA, USA. https://doi.org/10.1109/icsm.2011.6080792 |
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