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Documents dont l'auteur est "Bourbonnais-Sureault, D."

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Lussier, A. W., Bourbonnais-Sureault, D., Chicoine, M., Martel, R., Martinu, L., Roorda, S., & Schiettekatte, F. (2024). Raman-based mapping and depth-profiling of the relaxation state in amorphous silicon. Journal of Applied Physics, 135(6), 065301 (12 pages). Lien externe

Liste produite: Fri Dec 20 03:47:43 2024 EST.