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Documents dont l'auteur est "Berriche, R."

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Berriche, R., Leroux, P., & Martinu, L. (août 1995). Evaluation of adhesion of thin films of Si₃N₄ and SiO₂ to si by the scratch method [Communication écrite]. International Symposium on Advanced Ceramics for Structural and Tribological Applications, Vancouver, BC, CAN. Non disponible

Liste produite: Fri Nov 22 04:37:16 2024 EST.