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Documents dont l'auteur est "Ben Hamida, Naim"

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Article de revue

Ben Hamida, N., & Kamińska, B. (1993). Multiple fault analog circuit testing by sensitivity analysis. Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 4(3), 231-243. Lien externe

Communication écrite

Ben Hamida, N., Kamińska, B., & Savaria, Y. (mai 1993). Initiability: A Measure of Sequential Testability [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1993), Chicago, IL, USA. Lien externe

Thèse de doctorat

Ben Hamida, N. (1996). Génération de vecteurs de test pour les circuits mixtes [Thèse de doctorat, École Polytechnique de Montréal]. Non disponible

Liste produite: Sun May 24 05:34:28 2026 EDT.