Documents dont l'auteur est "Thibeault, C."

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Article de revue

Savaria, Y., Thibeault, C., & Ivanov, A. (1996). IEEE VSLI test symposium - meeting the quality challenge. IEEE Design & Test of Computers, 13(3), 110-112. Non disponible

Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1995). Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated-circuits. IEEE Transactions on Computers, 44(5), 724-728. Lien externe

Communication écrite

Gagnon, Y., Meunier, M., Savaria, Y., & Thibeault, C. (octobre 1997). Mathematical cost model for redundant multi-processor arrays [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Paris, France. Publié dans Journal of Microelectronic Systems Integration, 5(4). Non disponible

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