Documents dont l'auteur est "Qiu, Bing"

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Lu, M., Savaria, Y., Qiu, B., & Taillefer, J. (novembre 2003). IEEE 1149.1 based defect and fault tolerant scan chain for wafer scale integration [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Boston, MA, United states. Lien externe

Qiu, B., Savaria, Y., Lu, M., Wang, C., & Thibeault, C. (novembre 2002). Yield modeling of a WSI telecom router architecture [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2002), Vancouver, BC, Canada. Lien externe

Liste produite: Sat Oct 10 00:37:02 2026 EDT.