Mémoire de maîtrise (2006)
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Mots clés
Circuits intégrés -- Conception et construction; Silicium, Effet des lasers sur le; Silicium -- Propriétés électriques -- Mesure; Résistance électrique -- Mesure
| Renseignements supplémentaires: | Le fichier PDF de ce document a été produit par Bibliothèque et Archives Canada selon les termes du programme Thèses Canada https://canada.on.worldcat.org/oclc/676689406 |
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| Département: | Département de génie physique |
| Directeurs ou directrices: |
Michel Meunier
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/8389/ |
| Université/École: | École Polytechnique de Montréal |
| Date du dépôt: | 04 août 2021 11:05 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2024 10:31 |
| Citer en APA 7: | Laforte, S. (2006). Mesure in-situ de la zone fondue d'un circuit intégré lors de la fabrication d'une résistance diffusée par laser [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/8389/ |
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