On the Measurement of Resistive Thin Films and Dielectric Slabs Using Open-Ended Coaxial Lines

Yansheng Xu et Rénato Bosisio

Article de revue (1992)

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Département:	Département de génie électrique Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/82192/
Titre de la revue:	Journal of Electromagnetic Waves and Applications (vol. 6, no 9)
Maison d'édition:	Taylor & Francis
DOI:	10.1163/156939392x00706
URL officielle:	https://doi.org/10.1163/156939392x00706
Date du dépôt:	01 oct. 2026 16:29
Dernière modification:	01 oct. 2026 16:29

Citer en APA 7:	Xu, Y., & Bosisio, R. (1992). On the Measurement of Resistive Thin Films and Dielectric Slabs Using Open-Ended Coaxial Lines. Journal of Electromagnetic Waves and Applications, 6(9), 1247-1258. https://doi.org/10.1163/156939392x00706
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