Arthur Diamant, Theotim Lucas, Omar Rodríguez-Núñez, Sooyong Chae, Eléa Gros, Christopher Hahne, Theoni Maragkou, Richard McKinley, Philippe Schucht, Tatiana Novikova
Communication écrite (2026)
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Département:
ISBN:
9781510696228
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
BiOS, 2026
Lieu de la conférence:
San Francisco, CA, USA
Date(s) de la conférence:
2026-01-17 - 2026-01-23
Éditeurs ou éditrices:
Maison d'édition:
SPIE - International Society for Optical Engineering
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:76390
ORCID
Date du dépôt:
08 mai 2026 15:36
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:38
Citer en APA 7:
Diamant, A., Lucas, T., Rodríguez-Núñez, O., Chae, S., Gros, E., Hahne, C., Maragkou, T., McKinley, R., Schucht, P., & Novikova, T. (janvier 2026). Correction of polarimetric artifacts caused by a plastic cover in imaging Mueller polarimeter operating in reflection mode [Communication écrite]. BiOS, 2026, San Francisco, CA, USA. https://doi.org/10.1117/12.3079639
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