Arthur Diamant, Theotim Lucas, Omar Rodríguez-Núñez, Sooyong Chae, Eléa Gros, Christopher Hahne, Theoni Maragkou, Richard McKinley, Philippe Schucht et Tatiana Novikova
Communication écrite (2026)
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| Département: | Département de génie mécanique |
|---|---|
| ISBN: | 9781510696228 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/76390/ |
| Nom de la conférence: | BiOS, 2026 |
| Lieu de la conférence: | San Francisco, CA, USA |
| Date(s) de la conférence: | 2026-01-17 - 2026-01-23 |
| Éditeurs ou éditrices: | Tatiana Novikova, Igor V. Meglinski et Juan Campos Coloma |
| Maison d'édition: | SPIE - International Society for Optical Engineering |
| DOI: | 10.1117/12.3079639 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1117/12.3079639 |
| Date du dépôt: | 08 mai 2026 15:36 |
| Dernière modification: | 08 mai 2026 15:36 |
| Citer en APA 7: | Diamant, A., Lucas, T., Rodríguez-Núñez, O., Chae, S., Gros, E., Hahne, C., Maragkou, T., McKinley, R., Schucht, P., & Novikova, T. (janvier 2026). Correction of polarimetric artifacts caused by a plastic cover in imaging Mueller polarimeter operating in reflection mode [Communication écrite]. BiOS, 2026, San Francisco, CA, USA. https://doi.org/10.1117/12.3079639 |
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