Pierre-Luc Thériault, Jiangnan Liu, Haochen Wang, Matthias Florian, Huabin Yu, Md Mehedi Hasan Tanim, You Wu, Chris G. Van de Walle, Mackillo Kira, Stéphane Kéna-Cohen
et Zetian Mi
Article de revue (2026)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| Organismes subventionnaires: | National Science Foundation, Semiconductor Research Corporation, University of Michigan, Canada Research Chairs, Defense Sciences Office, DARPA, Army Research Office |
| Numéro de subvention: | 2137603, 2435166, 2138259, 2138296, 2138307, W911NF2210139, 2138286, W911NF2420210, DMR070069 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/76170/ |
| Titre de la revue: | Applied Physics Letters (vol. 128, no 14) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/5.0324178 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/5.0324178 |
| Date du dépôt: | 27 avr. 2026 11:24 |
| Dernière modification: | 27 avr. 2026 11:24 |
| Citer en APA 7: | Thériault, P.-L., Liu, J., Wang, H., Florian, M., Yu, H., Tanim, M. M. H., Wu, Y., Van de Walle, C. G., Kira, M., Kéna-Cohen, S., & Mi, Z. (2026). Impact of scandium substitution on the second-order nonlinearity of epitaxial aluminum nitride thin films. Applied Physics Letters, 128(14), 142202 (6 pages). https://doi.org/10.1063/5.0324178 |
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