Biaxial stress effects on the TE/TM polarization switching of InGaAsP ridge-waveguide lasers

Romain Maciejko, Joel A. Berger, Alain Champagne et Jan M. Gliński

Article de revue (1989)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/75207/
Titre de la revue:	IEEE Photonics Technology Letters (vol. 1, no 7)
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/68.36025
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/68.36025
Date du dépôt:	13 avr. 2026 14:30
Dernière modification:	13 avr. 2026 14:30

Citer en APA 7:	Maciejko, R., Berger, J. A., Champagne, A., & Gliński, J. M. (1989). Biaxial stress effects on the TE/TM polarization switching of InGaAsP ridge-waveguide lasers. IEEE Photonics Technology Letters, 1(7), 162-165. https://doi.org/10.1109/68.36025
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