Biaxial stress effects on the TE/TM polarization switching of InGaAsP ridge-waveguide lasers

Romain Maciejko, Joel A. Berger, Alain Champagne, Jan M. Gliński

Article de revue (1989)

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Mots clés

Département:
Département de génie physique
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/75207/
Titre de la revue :
IEEE Photonics Technology Letters ( vol. 1 , no 7 )
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:
10.1109/68.36025
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/68.36025
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:75207
ORCID
Date du dépôt:
13 avr. 2026 14:30
Dernière modification:
29 oct. 2026 19:53
Citer en APA 7:
Maciejko, R., Berger, J. A., Champagne, A., & Gliński, J. M. (1989). Biaxial stress effects on the TE/TM polarization switching of InGaAsP ridge-waveguide lasers. IEEE Photonics Technology Letters, 1(7), 162-165. https://doi.org/10.1109/68.36025

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