The Measurement of Complex Reflection Coefficient by Means of a Five-Port Reflectometer

Shihe Li et Rénato Bosisio

Article de revue (1983)

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Département:	Département de génie électrique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/75131/
Titre de la revue:	IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques (vol. 31, no 4)
Maison d'édition:	IEEE Microwave Theory and Techniques Society
DOI:	10.1109/tmtt.1983.1131491
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/tmtt.1983.1131491
Date du dépôt:	07 avr. 2026 13:04
Dernière modification:	07 avr. 2026 13:04

Citer en APA 7:	Li, S., & Bosisio, R. (1983). The Measurement of Complex Reflection Coefficient by Means of a Five-Port Reflectometer. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 31(4), 321-326. https://doi.org/10.1109/tmtt.1983.1131491
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