Hybrid mode analysis of RF characteristics in integrated optical modulations on III-V semiconductors

Ke Wu, Cheuk-Yu Edward Tong et Ruediger Vahldieck

Communication écrite (1990)

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URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/75103/
Nom de la conférence:	International Microwave Symposium (IMS 1990)
Lieu de la conférence:	Dallas, TX, USA
Date(s) de la conférence:	1990-05-08 - 1990-05-10
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/mwsym.1990.99576
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/mwsym.1990.99576
Date du dépôt:	14 avr. 2026 13:45
Dernière modification:	14 avr. 2026 13:45

Citer en APA 7:	Wu, K., Tong, C.-Y. E., & Vahldieck, R. (mai 1990). Hybrid mode analysis of RF characteristics in integrated optical modulations on III-V semiconductors [Communication écrite]. International Microwave Symposium (IMS 1990), Dallas, TX, USA. https://doi.org/10.1109/mwsym.1990.99576
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