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Rigorous analysis of the characteristic impedance in conductor-backed miniature coplanar waveguides considering multiple layers of lossy and finite thickness metal

Ke Wu et Ruediger Vahldieck

Communication écrite (1992)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

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ISBN: 0780306112
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/75024/
Nom de la conférence: MTT-S Microwave Symposium
Lieu de la conférence: Albuquerque, NM, USA
Date(s) de la conférence: 1992-06-01 - 1992-06-05
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/mwsym.1992.188156
URL officielle: https://doi.org/10.1109/mwsym.1992.188156
Date du dépôt: 27 mars 2026 09:18
Dernière modification: 27 mars 2026 09:18
Citer en APA 7: Wu, K., & Vahldieck, R. (juin 1992). Rigorous analysis of the characteristic impedance in conductor-backed miniature coplanar waveguides considering multiple layers of lossy and finite thickness metal [Communication écrite]. MTT-S Microwave Symposium, Albuquerque, NM, USA. https://doi.org/10.1109/mwsym.1992.188156

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