Kostas Kontogiannis, Renato De Mori, M. Bernstein, M. Galler, Ettore Merlo
Communication écrite (1995)
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Département:
Organismes subventionnaires:
IBM Canada Ltd., National Research Council of Canada, McGill University
ISBN:
0818671114
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
Working Conference on Reverse Engineering (WCRE 1995)
Lieu de la conférence:
Toronto, ON, Canada
Date(s) de la conférence:
1995-07-14 - 1995-07-16
Maison d'édition:
Institute of Electrical and Electronics Engineers
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74274
ORCID
Date du dépôt:
22 avr. 2026 09:57
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:35
Citer en APA 7:
Kontogiannis, K., De Mori, R., Bernstein, M., Galler, M., & Merlo, E. (juillet 1995). Pattern matching for design concept localization [Communication écrite]. Working Conference on Reverse Engineering (WCRE 1995), Toronto, ON, Canada. https://doi.org/10.1109/wcre.1995.514698
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