Kostas Kontogiannis, Renato De Mori, M. Bernstein, M. Galler et Ettore Merlo
Communication écrite (1995)
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| Département: | Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| Organismes subventionnaires: | IBM Canada Ltd., National Research Council of Canada, McGill University |
| ISBN: | 0818671114 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/74274/ |
| Nom de la conférence: | Working Conference on Reverse Engineering (WCRE 1995) |
| Lieu de la conférence: | Toronto, ON, Canada |
| Date(s) de la conférence: | 1995-07-14 - 1995-07-16 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/wcre.1995.514698 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/wcre.1995.514698 |
| Date du dépôt: | 22 avr. 2026 09:57 |
| Dernière modification: | 22 avr. 2026 09:57 |
| Citer en APA 7: | Kontogiannis, K., De Mori, R., Bernstein, M., Galler, M., & Merlo, E. (juillet 1995). Pattern matching for design concept localization [Communication écrite]. Working Conference on Reverse Engineering (WCRE 1995), Toronto, ON, Canada. https://doi.org/10.1109/wcre.1995.514698 |
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