Pierre Hansen, Manuel Ruiz Marín, Daniel Aloise
Article de revue (2012)
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Titre de la revue
:
Pattern Recognition
(
vol.
45
,
no
12
)
Maison d'édition:
Elsevier BV
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:74101
ORCID
Date du dépôt:
02 juil. 2026 14:05
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:35
Citer en APA 7:
Hansen, P., Ruiz Marín, M., & Aloise, D. (2012). A VNS heuristic for escaping local extrema entrapment in normalized cut clustering. Pattern Recognition, 45(12), 4337-4345. https://doi.org/10.1016/j.patcog.2012.04.029
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