Zhaoming Lu, C. Lagarde, Edward Sacher, John F. Currie et Arthur Yelon
Article de revue (1989)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie physique |
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| Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/73523/ |
| Titre de la revue: | Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films (vol. 7, no 3) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1116/1.575859 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1116/1.575859 |
| Date du dépôt: | 13 avr. 2026 14:23 |
| Dernière modification: | 13 avr. 2026 14:23 |
| Citer en APA 7: | Lu, Z., Lagarde, C., Sacher, E., Currie, J. F., & Yelon, A. (1989). A surface analytical study of GaAs(100) cleaning procedures. Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films, 7(3), 646-650. https://doi.org/10.1116/1.575859 |
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