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From Technical Excellence to Practical Adoption: Lessons Learned Building an ML-Enhanced Trace Analysis Tool

Kaveh Shahedi, Matthew Khouzam, Heng Li, Maxime Lamothe et Foutse Khomh

Communication écrite (2025)

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Département: Département de génie informatique et génie logiciel
ISBN: 9798350357332
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/72103/
Nom de la conférence: 40th International Conference on Automated Software Engineering (ASE 2025)
Lieu de la conférence: Seoul, Korea
Date(s) de la conférence: 2025-11-16 - 2025-11-20
Maison d'édition: Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI: 10.1109/ase63991.2025.00286
URL officielle: https://doi.org/10.1109/ase63991.2025.00286
Date du dépôt: 02 févr. 2026 16:56
Dernière modification: 02 févr. 2026 16:56
Citer en APA 7: Shahedi, K., Khouzam, M., Li, H., Lamothe, M., & Khomh, F. (novembre 2025). From Technical Excellence to Practical Adoption: Lessons Learned Building an ML-Enhanced Trace Analysis Tool [Communication écrite]. 40th International Conference on Automated Software Engineering (ASE 2025), Seoul, Korea. https://doi.org/10.1109/ase63991.2025.00286

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