Eloïse Rahier, Sebastian Koelling, Sudarshan Singh, L. Montpetit et Oussama Moutanabbir
Communication écrite (2025)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| ISBN: | 9781665477673 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/71515/ |
| Nom de la conférence: | Nuclear Science Symposium (NSS), Medical Imaging Conference (MIC) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD) |
| Lieu de la conférence: | Yokohama, Japan |
| Date(s) de la conférence: | 2025-11-01 - 2025-11-08 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/nss/mic/rtsd57106.2025.11286906 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/nss/mic/rtsd57106.2025.112... |
| Date du dépôt: | 16 janv. 2026 14:08 |
| Dernière modification: | 16 janv. 2026 14:08 |
| Citer en APA 7: | Rahier, E., Koelling, S., Singh, S., Montpetit, L., & Moutanabbir, O. (novembre 2025). Tracking the Three-Dimensional Distribution of Growth Impurities in Cd₀.₉Zn₀.₁Te Single Crystal [Communication écrite]. Nuclear Science Symposium (NSS), Medical Imaging Conference (MIC) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD), Yokohama, Japan (1 page). https://doi.org/10.1109/nss/mic/rtsd57106.2025.11286906 |
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