Thickness Dependence of Transport Properties of Doped Polycrystalline Tin Oxide Films

Daniel Bélanger, Jean-Pol Dodelet, B. A. Lombos et J. Ivan Dickson

Article de revue (1985)

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Département:	Département de génie mécanique
Organismes subventionnaires:	Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/70943/
Titre de la revue:	Journal of The Electrochemical Society (vol. 132, no 6)
Maison d'édition:	Institute of Physics
DOI:	10.1149/1.2114132
URL officielle:	https://doi.org/10.1149/1.2114132
Date du dépôt:	18 déc. 2025 09:52
Dernière modification:	18 déc. 2025 09:52

Citer en APA 7:	Bélanger, D., Dodelet, J.-P., Lombos, B. A., & Dickson, J. I. (1985). Thickness Dependence of Transport Properties of Doped Polycrystalline Tin Oxide Films. Journal of The Electrochemical Society, 132(6), 1398-1405. https://doi.org/10.1149/1.2114132
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