Daniel Bélanger, Jean-Pol Dodelet, B. A. Lombos, J. Ivan Dickson
Article de revue (1985)
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Mots clés
Département:
Organismes subventionnaires:
Natural Sciences and Engineering Research Council of Canada
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Journal of The Electrochemical Society
(
vol.
132
,
no
6
)
Maison d'édition:
Institute of Physics
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:70943
ORCID
Date du dépôt:
18 déc. 2025 09:52
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:31
Citer en APA 7:
Bélanger, D., Dodelet, J.-P., Lombos, B. A., & Dickson, J. I. (1985). Thickness Dependence of Transport Properties of Doped Polycrystalline Tin Oxide Films. Journal of The Electrochemical Society, 132(6), 1398-1405. https://doi.org/10.1149/1.2114132
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