On the Measurement of Resistive Thin Films and Dielectric Slabs Using Open-Ended Coaxial Lines

Yansheng Xu, Rénato Bosisio

Article de revue (1992)

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Titre de la revue :
Journal of Electromagnetic Waves and Applications ( vol. 6 , no 7 )
Maison d'édition:
Taylor & Francis
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:70869
ORCID
Date du dépôt:
19 déc. 2025 11:51
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:31
Citer en APA 7:
Xu, Y., & Bosisio, R. (1992). On the Measurement of Resistive Thin Films and Dielectric Slabs Using Open-Ended Coaxial Lines. Journal of Electromagnetic Waves and Applications, 6(7), 1247-1258. https://doi.org/10.1163/156939392x01732

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