T. Bekkay, Ricardo Izquierdo, M. St-Denis, Edward Sacher et Arthur Yelon
Article de revue (1989)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie physique |
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| Centre de recherche: | GCM - Groupe de recherche en physique et technologie des couches minces |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/69588/ |
| Titre de la revue: | Surface Science (vol. 222, no 2-3) |
| Maison d'édition: | Elsevier BV |
| DOI: | 10.1016/0039-6028(89)90352-x |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1016/0039-6028%2889%2990352-x |
| Date du dépôt: | 25 nov. 2025 15:46 |
| Dernière modification: | 25 nov. 2025 15:46 |
| Citer en APA 7: | Bekkay, T., Izquierdo, R., St-Denis, M., Sacher, E., & Yelon, A. (1989). The presence of silane gas in plasma-deposited hydrogenated amorphous silicon. Surface Science, 222(2-3), L831-L836. https://doi.org/10.1016/0039-6028%2889%2990352-x |
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