Article de revue (2025)
| Département: | Département de génie physique |
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/66682/ |
| Titre de la revue: | Journal of Applied Physics (vol. 138, no 4) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/5.0267523 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/5.0267523 |
| Date du dépôt: | 23 juil. 2025 12:28 |
| Dernière modification: | 23 juil. 2025 12:28 |
| Citer en APA 7: | Masut, R. A. (2025). Hall effect measurements to determine surface electronic properties of semiconductor epitaxial films. Journal of Applied Physics, 138(4), 045301 (15 pages). https://doi.org/10.1063/5.0267523 |
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