Comparison of Two Machine Learning Models for Predicting Volumetric Errors From On-The-Fly R-Test Type Device Data and Virtual End Point Constraints

Min Zeng, J. R. René Mayer, Miao Feng, Elie Bitar-Nehme, Xuan Truong Duong

Article de revue (2025)

Accéder à ce document
Lien externe
Libre accès au texte intégral chez l'éditeur officiel
Voir chez l'éditeur officiel

Mots clés

Département:
Département de génie mécanique
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/65946/
Titre de la revue :
Journal of Machine Engineering ( vol. 25 )
Maison d'édition:
Publishing House of Wrocław Board of Scientific Technical Societies Federation NOT
DOI:
10.36897/jme/203805
URL officielle:
https://doi.org/10.36897/jme/203805
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:65946
ORCID
Date du dépôt:
03 juin 2025 15:46
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:27
Citer en APA 7:
Zeng, M., Mayer, J. R. R., Feng, M., Bitar-Nehme, E., & Truong Duong, X. (2025). Comparison of Two Machine Learning Models for Predicting Volumetric Errors From On-The-Fly R-Test Type Device Data and Virtual End Point Constraints. Journal of Machine Engineering, 25, 5-19. https://doi.org/10.36897/jme/203805

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document
Afficher document