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Air gap effect and the importance of the electrodes on the sample of the lumped-capacitance method for dielectric measurements

Anqing Lian et Weilie Zhang

Communication écrite (1989)

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Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/62828/
Nom de la conférence: IEEE Industry Applications Society Annual Meeting
Lieu de la conférence: San Diego, CA, USA
Date(s) de la conférence: 1989-10-01 - 1989-10-05
Titre de la revue: Conference Record of the 1988 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting
DOI: 10.1109/ias.1989.96621
URL officielle: https://doi.org/10.1109/ias.1989.96621
Date du dépôt: 21 févr. 2025 10:16
Dernière modification: 21 févr. 2025 10:16
Citer en APA 7: Lian, A., & Zhang, W. (octobre 1989). Air gap effect and the importance of the electrodes on the sample of the lumped-capacitance method for dielectric measurements [Communication écrite]. IEEE Industry Applications Society Annual Meeting, San Diego, CA, USA. Publié dans Conference Record of the 1988 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting. https://doi.org/10.1109/ias.1989.96621

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