Air gap effect and the importance of the electrodes on the sample of the lumped-capacitance method for dielectric measurements

Anqing Lian, Weilie Zhang

Communication écrite (1989)

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Nom de la conférence:
IEEE Industry Applications Society Annual Meeting
Lieu de la conférence:
San Diego, CA, USA
Date(s) de la conférence:
1989-10-01 - 1989-10-05
Titre de la revue :
Conference Record of the 1988 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:62828
ORCID
Date du dépôt:
21 févr. 2025 10:16
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:23
Citer en APA 7:
Lian, A., & Zhang, W. (octobre 1989). Air gap effect and the importance of the electrodes on the sample of the lumped-capacitance method for dielectric measurements [Communication écrite]. IEEE Industry Applications Society Annual Meeting, San Diego, CA, USA. Publié dans Conference Record of the 1988 IEEE Industry Applications Society Annual Meeting. https://doi.org/10.1109/ias.1989.96621

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