X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF SIMS)

L'Hocine Yahia, Laura Karina Mireles Nunez

Chapitre de livre (2017)

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ISBN:
9780081007372
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Éditeurs ou éditrices:
Titre de la revue :
Elsevier eBooks
Maison d'édition:
Elsevier BV
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:61530
ORCID
Date du dépôt:
18 déc. 2024 15:42
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:22
Citer en APA 7:
Yahia, L., & Mireles Nunez, L. K. (2017). X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF SIMS). Dans Tanzi, M. C., & Farè, S. (édit.), Characterization of Polymeric Biomaterials (p. 83-97). https://doi.org/10.1016/b978-0-08-100737-2.00004-2

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