X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF SIMS)

L'Hocine Yahia et Laura Karina Mireles Nunez

Chapitre de livre (2017)

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Département:	Département de génie mécanique
Centre de recherche:	LIAB - Laboratoire d'innovation et d'analyse de bioperformances
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/61530/
Éditeurs ou éditrices:	Maria Cristina Tanzi et Silvia Farè
Titre de la revue:	Elsevier eBooks
Maison d'édition:	Elsevier BV
DOI:	10.1016/b978-0-08-100737-2.00004-2
URL officielle:	https://doi.org/10.1016/b978-0-08-100737-2.00004-2
Date du dépôt:	18 déc. 2024 15:42
Dernière modification:	18 déc. 2024 15:42

Citer en APA 7:	Yahia, L., & Mireles Nunez, L. K. (2017). X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF SIMS). Dans Tanzi, M. C., & Farè, S. (édit.), Characterization of Polymeric Biomaterials (p. 83-97). https://doi.org/10.1016/b978-0-08-100737-2.00004-2
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