Howard M. Branz, Arthur Yelon
et Bijan Movaghar
Article de revue (1994)
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/55617/ |
|---|---|
| Titre de la revue: | MRS Proceedings (vol. 336) |
| Maison d'édition: | Cambridge University Press |
| DOI: | 10.1557/proc-336-159 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1557/proc-336-159 |
| Date du dépôt: | 19 sept. 2023 14:44 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:47 |
| Citer en APA 7: | Branz, H. M., Yelon, A., & Movaghar, B. (1994). Physics of the Meyer-Neldel Rule in Amorphous Silicon. MRS Proceedings, 336. https://doi.org/10.1557/proc-336-159 |
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