Howard M. Branz, Arthur Yelon
, Bijan Movaghar
Article de revue (1994)
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Titre de la revue
:
MRS Proceedings
(
vol.
336
)
Maison d'édition:
Cambridge University Press
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:55617
ORCID
Date du dépôt:
19 sept. 2023 14:44
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:14
Citer en APA 7:
Branz, H. M., Yelon, A., & Movaghar, B. (1994). Physics of the Meyer-Neldel Rule in Amorphous Silicon. MRS Proceedings, 336. https://doi.org/10.1557/proc-336-159
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