A probabilistic framework for mutation testing in deep neural networks

Florian Tambon, Foutse Khomh et Giuliano Antoniol

Article de revue (2023)

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Matériel d'accompagnement:	Ensemble de données Ensemble de données Ensemble de données Ensemble de données Code
Département:	Département de génie informatique et génie logiciel
Organismes subventionnaires:	NSERC, CRIAQ
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/53237/
Titre de la revue:	Information and Software Technology (vol. 155)
Maison d'édition:	Elsevier B.V.
DOI:	10.1016/j.infsof.2022.107129
URL officielle:	https://doi.org/10.1016/j.infsof.2022.107129
Date du dépôt:	18 avr. 2023 14:58
Dernière modification:	06 janv. 2026 16:03

Citer en APA 7:	Tambon, F., Khomh, F., & Antoniol, G. (2023). A probabilistic framework for mutation testing in deep neural networks. Information and Software Technology, 155, 107129 (13 pages). https://doi.org/10.1016/j.infsof.2022.107129
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