Article de revue (1984)
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Département:
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Titre de la revue
:
Applied Optics
(
vol.
23
,
no
16
)
Maison d'édition:
Optica Publishing Group
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:52910
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:10
Citer en APA 7:
Leclerc, G., & Yelon, A. (1984). Birefringence measurements of thin dielectric films by the prism coupler method. Applied Optics, 23(16), 2760-2762. https://doi.org/10.1364/ao.23.002760
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