Birefringence measurements of thin dielectric films by the prism coupler method

Gervais Leclerc et Arthur Yelon

Article de revue (1984)

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Département:	Département de génie physique
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/52910/
Titre de la revue:	Applied Optics (vol. 23, no 16)
DOI:	10.1364/ao.23.002760
URL officielle:	https://doi.org/10.1364/ao.23.002760
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:	05 avr. 2024 11:58

Citer en APA 7:	Leclerc, G., & Yelon, A. (1984). Birefringence measurements of thin dielectric films by the prism coupler method. Applied Optics, 23(16), 2760-2762. https://doi.org/10.1364/ao.23.002760
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