Gervais Leclerc et Arthur Yelon
Article de revue (1984)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/52910/ |
| Titre de la revue: | Applied Optics (vol. 23, no 16) |
| Maison d'édition: | Optica Publishing Group |
| DOI: | 10.1364/ao.23.002760 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1364/ao.23.002760 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:44 |
| Citer en APA 7: | Leclerc, G., & Yelon, A. (1984). Birefringence measurements of thin dielectric films by the prism coupler method. Applied Optics, 23(16), 2760-2762. https://doi.org/10.1364/ao.23.002760 |
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