<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Measuring the Magnetic Induction of Isolated CoFeB Nanowires by Off-Axis Electron Holography

A. Akhtari Zavareh, K. Kavanagh, T. Kasama, Louis-Philippe Carignan, Arthur Yelon, David Ménard, R. Herring, R. Dunin-Borkowski et M. McCartney

Résumé (2012)

Un lien externe est disponible pour ce document
Renseignements supplémentaires: In conjunction with : 70th annual meeting of Microscopy Society of America, 46th annual meeting of Microanalysis Society, 45th annual meeting of International Metallographic Society.
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/48601/
Nom de la conférence: 2012 Microscopy and Microanalysis Meeting (M&M 2012)
Lieu de la conférence: Phoenix, Arizona, USA
Date(s) de la conférence: 2012-07-29 - 2012-08-02
Titre de la revue: Microscopy and Microanalysis (vol. 18, no S2)
Maison d'édition: Cambridge University Press
DOI: 10.1017/s1431927612004400
URL officielle: https://doi.org/10.1017/s1431927612004400
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:10
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:37
Citer en APA 7: Akhtari Zavareh, A., Kavanagh, K., Kasama, T., Carignan, L.-P., Yelon, A., Ménard, D., Herring, R., Dunin-Borkowski, R., & McCartney, M. (juillet 2012). Measuring the Magnetic Induction of Isolated CoFeB Nanowires by Off-Axis Electron Holography [Résumé]. 2012 Microscopy and Microanalysis Meeting (M&M 2012), Phoenix, Arizona, USA. Publié dans Microscopy and Microanalysis, 18(S2). https://doi.org/10.1017/s1431927612004400

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document