Key Error Rates in Physical Layer Key Generation: Theoretical Analysis and Measurement-Based Verification

Ozan Alp Topal, Gunes Karabulut Kurt, Berna Özbek

Article de revue (2017)

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Titre de la revue :
IEEE Wireless Communications Letters ( vol. 6 , no 6 )
Maison d'édition:
IEEE
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:48401
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:
14 oct. 2026 14:03
Citer en APA 7:
Topal, O. A., Karabulut Kurt, G., & Özbek, B. (2017). Key Error Rates in Physical Layer Key Generation: Theoretical Analysis and Measurement-Based Verification. IEEE Wireless Communications Letters, 6(6), 766-769. https://doi.org/10.1109/lwc.2017.2740290

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