Ozan Alp Topal, Gunes Karabulut Kurt et Berna Özbek
Article de revue (2017)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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Titre de la revue: | IEEE Wireless Communications Letters (vol. 6, no 6) |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/lwc.2017.2740290 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/lwc.2017.2740290 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:05 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:37 |
Citer en APA 7: | Topal, O. A., Karabulut Kurt, G., & Özbek, B. (2017). Key Error Rates in Physical Layer Key Generation: Theoretical Analysis and Measurement-Based Verification. IEEE Wireless Communications Letters, 6(6), 766-769. https://doi.org/10.1109/lwc.2017.2740290 |
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