Ozan Alp Topal, Gunes Karabulut Kurt
et Berna Özbek
Article de revue (2017)
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/48401/ |
|---|---|
| Titre de la revue: | IEEE Wireless Communications Letters (vol. 6, no 6) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/lwc.2017.2740290 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/lwc.2017.2740290 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:05 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:15 |
| Citer en APA 7: | Topal, O. A., Karabulut Kurt, G., & Özbek, B. (2017). Key Error Rates in Physical Layer Key Generation: Theoretical Analysis and Measurement-Based Verification. IEEE Wireless Communications Letters, 6(6), 766-769. https://doi.org/10.1109/lwc.2017.2740290 |
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