L. Dubé-Riopel, Bill Baloukas, Oleg Zabeida et Ludvik Martinu
Communication écrite (2019)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| ISBN: | 9781943580583 |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43607/ |
| Nom de la conférence: | Optical Interference Coatings Conference (OIC 2019) |
| Lieu de la conférence: | Santa Ana Pueblo, New Mexico |
| Date(s) de la conférence: | 2019-06-02 - 2019-06-07 |
| Maison d'édition: | Optical Society of America (OSA) |
| DOI: | 10.1364/oic.2019.thc.6 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1364/oic.2019.thc.6 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 12:23 |
| Citer en APA 7: | Dubé-Riopel, L., Baloukas, B., Zabeida, O., & Martinu, L. (juin 2019). In Situ and Ex Situ Spectroscopic Ellipsometry of Electrochromic NiO Films [Communication écrite]. Optical Interference Coatings Conference (OIC 2019), Santa Ana Pueblo, New Mexico. https://doi.org/10.1364/oic.2019.thc.6 |
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