L. Dubé-Riopel, Bill Baloukas, Oleg Zabeida et Ludvik Martinu
Communication écrite (2019)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/43607/ |
Nom de la conférence: | Optical Interference Coatings Conference (OIC 2019) |
Lieu de la conférence: | Santa Ana Pueblo, New Mexico |
Date(s) de la conférence: | 2019-06-02 - 2019-06-07 |
Maison d'édition: | Optical Society of America (OSA) |
DOI: | 10.1364/oic.2019.thc.6 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1364/oic.2019.thc.6 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:01 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:30 |
Citer en APA 7: | Dubé-Riopel, L., Baloukas, B., Zabeida, O., & Martinu, L. (juin 2019). In Situ and Ex Situ Spectroscopic Ellipsometry of Electrochromic NiO Films [Communication écrite]. Optical Interference Coatings Conference (OIC 2019), Santa Ana Pueblo, New Mexico. https://doi.org/10.1364/oic.2019.thc.6 |
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