On-chip refractive index cytometry for whole-cell deformability discrimination

Antoine Leblanc-Hotte, Nadine Sen Nkwe, Geneviève Chabot-Roy, El Bachir Affar, Sylvie Lesage, Jean-Sébastien Delisle, Yves-Alain Peter

Article de revue (2019)

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Titre de la revue :
Lab on a Chip ( vol. 19 , no 3 )
Maison d'édition:
The Royal Society of Chemistry
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:43285
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:02
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:55
Citer en APA 7:
Leblanc-Hotte, A., Sen Nkwe, N., Chabot-Roy, G., Affar, E. B., Lesage, S., Delisle, J.-S., & Peter, Y.-A. (2019). On-chip refractive index cytometry for whole-cell deformability discrimination. Lab on a Chip, 19(3), 464-474. https://doi.org/10.1039/c8lc00938d

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