<  Retour au portail Polytechnique Montréal

On the analysis of co-occurrence of anti-patterns and clones

Fehmi Jaafar, Angela Lozano, Yann-Gaël Guéhéneuc et Kim Mens

Communication écrite (2017)

Un lien externe est disponible pour ce document
Département: Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/39737/
Nom de la conférence: IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS 2017)
Lieu de la conférence: Prague, Czech Republic
Date(s) de la conférence: 2017-07-25 - 2017-07-29
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/qrs.2017.38
URL officielle: https://doi.org/10.1109/qrs.2017.38
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:04
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:35
Citer en APA 7: Jaafar, F., Lozano, A., Guéhéneuc, Y.-G., & Mens, K. (juillet 2017). On the analysis of co-occurrence of anti-patterns and clones [Communication écrite]. IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS 2017), Prague, Czech Republic. https://doi.org/10.1109/qrs.2017.38

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document