On the analysis of co-occurrence of anti-patterns and clones

Fehmi Jaafar, Angela Lozano, Yann-Gaël Guéhéneuc, Kim Mens

Communication écrite (2017)

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Département:
Département de génie informatique et génie logiciel
ISBN:
9781538605929
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/39737/
Nom de la conférence:
IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS 2017)
Lieu de la conférence:
Prague, Czech Republic
Date(s) de la conférence:
2017-07-25 - 2017-07-29
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/qrs.2017.38
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/qrs.2017.38
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:39737
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:04
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:32
Citer en APA 7:
Jaafar, F., Lozano, A., Guéhéneuc, Y.-G., & Mens, K. (juillet 2017). On the analysis of co-occurrence of anti-patterns and clones [Communication écrite]. IEEE International Conference on Software Quality, Reliability and Security (QRS 2017), Prague, Czech Republic. https://doi.org/10.1109/qrs.2017.38

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