W. M. Patterson, Denis Seletskiy, M. Sheik-Bahae, R. I. Epstein et M. P. Hehlen
Article de revue (2010)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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Titre de la revue: | Journal of the Optical Society of America B (vol. 27, no 3) |
Maison d'édition: | OSA |
DOI: | 10.1364/josab.27.000611 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1364/josab.27.000611 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:13 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:24 |
Citer en APA 7: | Patterson, W. M., Seletskiy, D., Sheik-Bahae, M., Epstein, R. I., & Hehlen, M. P. (2010). Measurement of solid-state optical refrigeration by two-band differential luminescence thermometry. Journal of the Optical Society of America B, 27(3), 611-618. https://doi.org/10.1364/josab.27.000611 |
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