W. M. Patterson, Denis Seletskiy
, M. Sheik-Bahae, R. I. Epstein et M. P. Hehlen
Article de revue (2010)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
Un lien externe est disponible pour ce document
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/39299/ |
|---|---|
| Titre de la revue: | Journal of the Optical Society of America B (vol. 27, no 3) |
| Maison d'édition: | OSA |
| DOI: | 10.1364/josab.27.000611 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1364/josab.27.000611 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:13 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 07:02 |
| Citer en APA 7: | Patterson, W. M., Seletskiy, D., Sheik-Bahae, M., Epstein, R. I., & Hehlen, M. P. (2010). Measurement of solid-state optical refrigeration by two-band differential luminescence thermometry. Journal of the Optical Society of America B, 27(3), 611-618. https://doi.org/10.1364/josab.27.000611 |
|---|---|
Statistiques
Dimensions
Actions réservées au personnel
|
Afficher document |
