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Corrected measured point determination in coordinate measurement

Adam Wozniak et J. R. René Mayer

Communication écrite (2017)

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Département: Département de génie mécanique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/38705/
Nom de la conférence: Spring Topical Meeting on Manufacture and Metrology of Structured and Freeform Surfaces for Functional Applications (ASPEN/ASPE 2017)
Lieu de la conférence: Hong Kong, Hong kong
Date(s) de la conférence: 2017-03-14 - 2017-03-17
Maison d'édition: Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology (ASPEN)/American Society for Precision Engineering (ASPE)
URL officielle: https://www.proceedings.com/37624.html
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:05
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:23
Citer en APA 7: Wozniak, A., & Mayer, J. R. R. (mars 2017). Corrected measured point determination in coordinate measurement [Communication écrite]. Spring Topical Meeting on Manufacture and Metrology of Structured and Freeform Surfaces for Functional Applications (ASPEN/ASPE 2017), Hong Kong, Hong kong. https://www.proceedings.com/37624.html

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