Adam Wozniak, J. R. René Mayer
Communication écrite (2017)
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Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
Spring Topical Meeting on Manufacture and Metrology of Structured and Freeform Surfaces for Functional Applications (ASPEN/ASPE 2017)
Lieu de la conférence:
Hong Kong, Hong kong
Date(s) de la conférence:
2017-03-14 - 2017-03-17
Maison d'édition:
Asian Society for Precision Engineering and Nanotechnology (ASPEN)/American Society for Precision Engineering (ASPE)
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:38705
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:05
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:30
Citer en APA 7:
Wozniak, A., & Mayer, J. R. R. (mars 2017). Corrected measured point determination in coordinate measurement [Communication écrite]. Spring Topical Meeting on Manufacture and Metrology of Structured and Freeform Surfaces for Functional Applications (ASPEN/ASPE 2017), Hong Kong, Hong kong. https://www.proceedings.com/37624.html
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