A Simple Method for Breakdown Voltage Measurements in Thin Films

S. Sapieha, Michael R. Wertheimer, Arthur Yelon

Article de revue (1979)

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Département:
Département de génie physique
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/38224/
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Electrical Insulation ( vol. EI-14 , no 4 )
Maison d'édition:
IEEE
DOI:
10.1109/tei.1979.298177
URL officielle:
https://doi.org/10.1109/tei.1979.298177
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:38224
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:29
Citer en APA 7:
Sapieha, S., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1979). A Simple Method for Breakdown Voltage Measurements in Thin Films. IEEE Transactions on Electrical Insulation, EI-14(4), 229-230. https://doi.org/10.1109/tei.1979.298177

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