S. Sapieha, Michael R. Wertheimer
et Arthur Yelon
Article de revue (1979)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38224/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Electrical Insulation (vol. EI-14, no 4) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tei.1979.298177 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tei.1979.298177 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:32 |
| Citer en APA 7: | Sapieha, S., Wertheimer, M. R., & Yelon, A. (1979). A Simple Method for Breakdown Voltage Measurements in Thin Films. IEEE Transactions on Electrical Insulation, EI-14(4), 229-230. https://doi.org/10.1109/tei.1979.298177 |
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