T. S. Ramu, Michael R. Wertheimer
, Jolanta-Ewa Sapieha
Communication écrite (1985)
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Nom de la conférence:
Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena
Lieu de la conférence:
Amherst, NY, USA
Date(s) de la conférence:
1985-10-20 - 1985-10-24
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:38216
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:29
Citer en APA 7:
Ramu, T. S., Wertheimer, M. R., & Sapieha, J.-E. (octobre 1985). Dielectric properties of plasma-deposited thin films: A comparison of different materials [Communication écrite]. Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena, Amherst, NY, USA. https://doi.org/10.1109/ceidp.1985.7728272
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