T. S. Ramu, Michael R. Wertheimer
et Jolanta-Ewa Sapieha
Communication écrite (1985)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38216/ |
| Nom de la conférence: | Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena |
| Lieu de la conférence: | Amherst, NY, USA |
| Date(s) de la conférence: | 1985-10-20 - 1985-10-24 |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/ceidp.1985.7728272 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/ceidp.1985.7728272 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:22 |
| Citer en APA 7: | Ramu, T. S., Wertheimer, M. R., & Sapieha, J.-E. (octobre 1985). Dielectric properties of plasma-deposited thin films: A comparison of different materials [Communication écrite]. Conference on Electrical Insulation & Dielectric Phenomena, Amherst, NY, USA. https://doi.org/10.1109/ceidp.1985.7728272 |
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