T. S. Ramu et Michael R. Wertheimer
Article de revue (1986)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
---|---|
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38214/ |
Titre de la revue: | IEEE Transactions on Electrical Insulation (vol. EI-21, no 4) |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.1109/tei.1986.348958 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tei.1986.348958 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:22 |
Citer en APA 7: | Ramu, T. S., & Wertheimer, M. R. (1986). Dielectric Properties of Plasma-Polymerized Hexamethyldisiloxane Films: 2 Dielectric Breakdown. IEEE Transactions on Electrical Insulation, EI-21(4), 557-563. https://doi.org/10.1109/tei.1986.348958 |
---|---|
Statistiques
Dimensions