T. S. Ramu et Michael R. Wertheimer
Article de revue (1986)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/38214/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Electrical Insulation (vol. EI-21, no 4) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tei.1986.348958 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tei.1986.348958 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:26 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:32 |
| Citer en APA 7: | Ramu, T. S., & Wertheimer, M. R. (1986). Dielectric Properties of Plasma-Polymerized Hexamethyldisiloxane Films: 2 Dielectric Breakdown. IEEE Transactions on Electrical Insulation, EI-21(4), 557-563. https://doi.org/10.1109/tei.1986.348958 |
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